XRF熒光光譜儀薄膜標準樣品

奧富森提(ti)供(gong)的(de)XRF薄(bo)膜(mo)標準樣品(pin)綜合了(le)多種高真空(kong)鍍膜(mo)技術進行(xing)制備；具(ju)有膜(mo)層厚(hou)(hou)度(du)控制精確(que)，厚(hou)(hou)度(du)均(jun)勻，性(xing)能穩定等優(you)點，元素純(chun)度(du)可達99.9%以上；同時綜合ICP和XRF等檢測技術，可精確(que)標定薄(bo)膜(mo)標樣的(de)負(fu)載量(liang)。

《HJ 830-2017 環境空(kong)氣顆(ke)(ke)粒物中無機元素(su)的(de)測定(ding)(ding)波長色散-X射線(xian)熒(ying)光光譜法》以及《HJ 829-2017 環境空(kong)氣顆(ke)(ke)粒物中無機元素(su)的(de)測定(ding)(ding)能量(liang)色散-X射線(xian)熒(ying)光光譜法》均要求使用薄膜標樣建立儀器的(de)工(gong)作(zuo)曲線(xian)。

XRF薄膜標準(zhun)樣品(pin)分(fen)SL(0.5-2μg/cm2)、VL(3-5μg/cm2)、L(15-25μg/cm2)、R(40-60μg/cm2)、H(80-120μg/cm2)五個負(fu)載量系列，其他負(fu)載量的產品(pin)可(ke)根據客(ke)戶實際(ji)需求定(ding)制。

可(ke)供應的XRF薄膜標準(zhun)樣(yang)品的元素如下（可(ke)在表格內打√選擇樣(yang)品）：

元素

SL

VL

L

R

H

元素

SL

VL

L

R

H

Na (NaCl)

Co

Mg (MgF2)

Ni

Al

Cu

Si (SiO2)

Zn (ZnTe)

P (GaP)

As (GaAs)

S (CuSx)

Se

Cl (NaCl)

Sr (SrF2)

K (KCl)

Br (CsBr)

Ca (CaF2)

Cd (CdSe)

Sc (ScF3)

Ba (BaF2)

Ti

Pb

V

Sn

Cr

Sb

Mn

In

Fe

Mo

Ag

Hg (HgTe)

可提(ti)供超純鋁杯(bei)用于XRF測定大氣顆(ke)粒(li)物的輔助設備(bei)，用以消除或減小(xiao)合金(jin)材(cai)料樣(yang)品(pin)杯(bei)對樣(yang)品(pin)結(jie)果的影響；采用生態環境(jing)部標準(zhun)(zhun)樣(yang)品(pin)研究(jiu)所提(ti)供的湖南重(zhong)金(jin)屬污染(ran)標準(zhun)(zhun)土壤樣(yang)品(pin)，參考NIST 2783標樣(yang)制備(bei)方(fang)式研制成(cheng)功混合元素(su)薄膜樣(yang)品(pin)，可用于XRF分(fen)析方(fang)法(fa)的驗(yan)證以及XRF實驗(yan)室日常質控工(gong)作。

XRF薄膜標準樣品(pin)的(de)安裝形(xing)式：

1、 安裝環尺寸（厚度為1.5mm的亞克力玻璃）

圓形：

代碼

外徑(mm)

內徑(mm)

25

25

17

32

32

25

36

36

29

47

47

39

推薦36號尺寸。

方形：

50x50mm方形尺寸，內置?32mm的圓環，代碼50。

2、 支撐(cheng)膜材料

代碼

支撐膜材料

備注

N

Nuclepore® polycarbonate

氣溶膠多孔膜

M6.3

6.3μm厚度麥拉膜(Mylar)

M3.5

3.5μm厚度麥(mai)拉膜(Mylar)

推(tui)薦M6.3型材料(liao)。

3、 鍍膜方式：

代碼

鍍膜位置排列

A

安裝環-元素膜(mo)-支撐膜(mo)

B

元素膜-支撐(cheng)膜-安裝環

XRF熒光光譜儀薄膜標準樣品