濾膜上(shang)的(de)空(kong)氣(qi)顆(ke)粒標準物(wu)質 Unit of Issue：2 +2 Blnk (47 mm dia) 此標準參(can)考物(wu)質 是一(yi)種空(kong)氣(qi)顆(ke)粒樣品，其粒徑(jing)已減小，以模(mo)擬 PM2.5 空(kong)氣(qi)顆(ke)粒物(wu)（空(kong)氣(qi)動(dong)力學當量直徑(jing)為 2.5 µm 的(de)顆(ke)粒）并沉積在聚碳(tan)酸酯(zhi)上(shang)濾膜。 它主要用于評估和(he)校準分析方法(fa)過濾介質上(shang)收集的(de)各種空(kong)氣(qi)懸浮顆(ke)粒物(wu)中(zhong)含有的(de)常見和(he)有毒元素。OFS-2783 的(de)一(yi)個(ge)(ge)單元包(bao)括兩個(ge)(ge)加載(zai)過濾器(qi)(qi)和(he)兩個(ge)(ge)空(kong)白(bai)過濾器(qi)(qi)。
Chemplex XRF樣(yang)(yang)品(pin)杯(bei)和樣(yang)(yang)品(pin)膜(mo)用于(yu)RoHS、WEEE專業測試(shi)儀器(qi)盛(sheng)放小(xiao)顆粒(li)固體(ti)(ti)，粉末，液體(ti)(ti)，適(shi)用于(yu)各(ge)種品(pin)牌的(de)X射線熒光光譜儀。Chemplex樣(yang)(yang)品(pin)膜(mo)薄膜(mo)張力特性，與樣(yang)(yang)品(pin)杯(bei)組合(he)使用，適(shi)合(he)盛(sheng)放各(ge)類金屬重物(wu)、液體(ti)(ti)或粉末。Chemplex的(de)許多(duo)XRF樣(yang)(yang)品(pin)杯(bei)、樣(yang)(yang)品(pin)薄膜(mo)被列(lie)為新穎(ying)*的(de)設計和應用，并被美國ZG商標局授予知(zhi)識產(chan)權(quan)地位(wei)。
美(mei)國ASI KECO公司在(zai)研(yan)發(fa)、制造硫化(hua)氫(qing)分(fen)析(xi)儀(yi)領(ling)域(yu)已經(jing)擁(yong)有超(chao)過30年歷史。ASI K32型(xing)在(zai)線硫化(hua)氫(qing)分(fen)析(xi)儀(yi)是用(yong)于(yu)生產(chan)過程的在(zai)線型(xing)工業(ye)分(fen)析(xi)儀(yi)表，廣泛引用(yong)于(yu)石油化(hua)工、天然氣、煤化(hua)工等領(ling)域(yu)。K32型(xing)硫化(hua)氫(qing)分(fen)析(xi)儀(yi)基于(yu)ASTM D4084、D4468和(he)D4045標準，采用(yong)醋酸鉛紙帶法分(fen)析(xi)原理，無(wu)任何交(jiao)叉干擾，能夠自動、連續地分(fen)析(xi)出介質中的硫化(hua)氫(qing)含量。
